幾何公差に関する用語の分類
製図用語（JIS Z 8114）に規定されている、『製図に関する用語』のうち、『幾何公差に関する用語』には、以下の用語があり、以下のように分類されています。
『製図に関する用語』
⇒【幾何公差に関する用語】
１． 幾何特性
１．１ 形体
１．１．１ 単独形体
１．１．２ 関連形体
１．１．３ 公差付き形体
１．１．３．１ 外側形体
１．１．３．２ 内側形体
１．２ （幾何公差の）公差域
１．３ 幾何公差
１．３．１ 形状公差
１．３．２ 姿勢公差
１．３．３ 位置公差
１．３．３．１ 真公差
１．３．４ 振れ公差
１．４ データム系
１．４．１ データム
１．４．２ データム形体
１．４．３ データムターゲット
１．５ 理論的に正確な寸法
１．６ 普通幾何公差
製図に関する用語のうち、幾何公差に関する用語の分類で、最も大きなくくりである”幾何特性”の用語の定義は、製図用語（JIS Z 8114）において以下のように定義されています。
分類：製図に関する用語 >> 幾何公差に関する用語
番号：3501
用語：幾何特性
定義：
形状、姿勢、位置及び振れを規制する特性。
対応英語（参考）：
geometrical characteristics
なお、幾何公差、幾何特性に関連するJIS規格には以下のJIS規格があります。
JISB0021
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−幾何公差表示方式−形状，姿勢，位置及び振れの公差表示方式
JIS B0022
幾何公差のためのデータム
JIS B0023
製図−幾何公差表示方式−最大実体公差方式及び最小実体公差方式
JIS B0025
製図―幾何公差表示方式―位置度公差方式
JIS B0031
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−表面性状の図示方法
JIS B0102
歯車用語−幾何学的定義
JIS B0121
歯車記号−幾何学的データの記号
JIS B0419
普通公差−第2部：個々に公差の指示がない形体に対する幾何公差
JIS B0601
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−用語，定義及び表面性状パラメータ
JIS B0610
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−転がり円うねりの定義及び表示
JIS B0612
製品の幾何特性仕様 (GPS) −円すいのテーパ比及びテーパ角度の基準値
JIS B0615
製品の幾何特性仕様 (GPS) −プリズムの角度及びこう配の基準値
JIS B0621
幾何偏差の定義及び表示
JIS B0631
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−モチーフパラメータ
JIS B0632
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−位相補償フィルタの特性
JIS B0633
製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状：輪郭曲線方式−表面性状評価の方式及び手順
JIS B0641-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −製品及び測定装置の測定による検査−第1部：仕様に対する合否判定基準
JIS B0651
製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状：輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性
JIS B0659-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；測定標準−第1部：標準片
JIS B0670
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の校正
JIS B0671-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第1部：フィルタ処理及び測定条件
JIS B0671-2
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第2部：線形表現の負荷曲線による高さの特性評価
JIS B0671-3
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第3部：正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価
JIS B0672-1
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−形体−第１部：一般用語及び定義
JIS B0672-2
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−形体−第２部：円筒及び円すいの測得中心線，測得中心面並びに測得形体の局部寸法
JIS B3700-42
産業オートメーションシステム及びその統合-製品データの表現及び交換-第４２部：統合総称リソース：幾何及び位相の表現
JIS B7440-1
製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第1部：用語
JIS B7440-2
製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第2部：寸法測定
JIS B7440-3
製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第3部：ロータリテーブル付き座標測定機
JIS B7440-4
製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第4部：スキャニング測定
JIS B7440-5
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査−第５部：マルチスタイラス測定
JIS B7440-6
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査−第６部：ソフトウェア検査
JIS B9623
印刷技術−工程管理−グラフィックアーツで使用する反射濃度計の光学的，幾何学的及び計測学的要求事項
JIS W0116
飛行力学−概念，量及び記号−第6部：航空機の幾何学的性質
JIS X4003
日本語文書交換用ファイル仕様（幾何学図形）
JIS X4108
開放型文書体系（ＯＤＡ）及び交換様式−第８部 幾何学図形内容体系
